Basés sur différentes méthodes d'imagerie, les systèmes d'inspection à rayons X-peuvent être divisés en deux catégories principales : les systèmes d'imagerie-en temps réel et les systèmes de tomodensitométrie (CT). Les systèmes d'imagerie-en temps réel peuvent acquérir des images de la structure interne d'un objet en peu de temps, permettant ainsi une inspection rapide ; tandis que les systèmes CT industriels peuvent générer des modèles numériques tridimensionnels -d'objets grâce à un balayage multi-angle, utilisé pour des applications plus complexes telles que la mesure dimensionnelle, la détection de défauts et l'ingénierie inverse.
Les systèmes d'inspection à rayons X-offrent des avantages techniques significatifs. Leurs capacités d'imagerie haute-résolution peuvent afficher clairement la structure microscopique à l'intérieur d'un objet, ce qui les rend adaptés à la détection de défauts infimes. En tant que méthode d'inspection non destructive, elle peut obtenir des informations structurelles internes sans endommager l'objet inspecté, ce qui la rend particulièrement adaptée à l'inspection complète des produits finis et semi-finis.
Les systèmes modernes prennent également en charge le fonctionnement automatisé, permettant une inspection multi-de réseaux via un contrôle informatique, améliorant ainsi considérablement l'efficacité de l'inspection. Certains systèmes avancés possèdent également-des capacités de surveillance et d'analyse en temps réel, permettant une surveillance immédiate de la qualité des produits ainsi que de l'identification et de la classification des défauts.